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10-16
臺式掃描電鏡的維護保養(yǎng)方法主要包括對電子槍、鏡筒、真空系統(tǒng)等關(guān)鍵部件的定期清潔和檢查,以及對環(huán)境條件的嚴(yán)格控制。1.電子槍的維護-燈絲的保養(yǎng):燈絲是電子槍的重要組成部分,其狀態(tài)直接影響到圖像質(zhì)量和設(shè)備性能。用戶應(yīng)定期觀察燈絲的飽和程度,并適當(dāng)調(diào)整燈絲電流,確保其在飽和狀態(tài)下工作。同時,避免在燈絲未關(guān)閉的情況下進行操作,以防燈絲熔斷。-柵極光闌的清洗:柵極光闌是電子槍中容易受到污染的部分。用戶應(yīng)定期使用金屬拋光液或超聲波清洗方法對其進行清潔,以去除鎢陰極蒸汽和氧化物等污染物。2...
10-9
臺式掃描電鏡是一種強大的科學(xué)工具,用于觀察和分析微小物體的結(jié)構(gòu)和形貌。1.基本原理:使用電子來觀察小物體,而不是光。其內(nèi)部包含一個電子源,通過高電壓加速電子,形成一個聚焦的電子束。這個電子束經(jīng)過一系列電磁透鏡的聚焦,打在樣品上。當(dāng)電子束與樣品相互作用時,會產(chǎn)生各種信號,如二次電子、背散射電子等,這些信號被探測器接收并處理,從而獲得樣品表面的圖像。2.組成部分:臺式掃描電鏡的主要組件包括電子發(fā)射系統(tǒng)、電磁透鏡、信號探測系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和計算機控制系統(tǒng)。電子發(fā)射系統(tǒng)負責(zé)產(chǎn)生電子束;...
9-10
臺式掃描電子顯微鏡(SEM)是一種強大的科學(xué)工具,它通過探測樣品表面反射的電子來提供樣品的形貌和成分信息。選擇和操作這種復(fù)雜設(shè)備需要一系列的考量和具體步驟,以確保獲取準(zhǔn)確和可靠的數(shù)據(jù)。1.選購臺式掃描電子顯微鏡的考量因素-空間與預(yù)算限制:考慮到實驗室空間可能有限,立式SEM通常需要更多空間。如果經(jīng)費有限,立式SEM所需額外投入如電磁屏蔽平臺的成本也較高。-使用便利性:對于頻繁使用設(shè)備的實驗室,臺式SEM因其較小的體積和易于操作的特性而更受歡迎。-性能需求:不同的研究項目可能需...
9-3
臺式掃描電子顯微鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,簡稱DesktopSEM)是一種小型化、低成本的。它與傳統(tǒng)的大型掃描電子顯微鏡在原理上相似,但體積更小、操作更簡便,適用于實驗室、教育、研發(fā)等領(lǐng)域,使得原本只能在專業(yè)實驗室進行的微觀觀察和分析變得更加普及和便捷。是一種利用電子束掃描樣品表面,通過收集樣品表面產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號,經(jīng)過處理后得到樣品表面形貌、成分等信息的顯微分析儀器。SEM具有分辨率高、放大倍數(shù)大、景深長等優(yōu)點,...
8-7
超高壓XRD是基于多晶樣品對X射線的衍射效應(yīng),用于分析測定樣品中各組份的存在形態(tài)的先進技術(shù)。它不僅可以揭示物質(zhì)的結(jié)晶情況和所屬晶相,還能詳細展現(xiàn)晶體的結(jié)構(gòu),各種元素在晶體中的價態(tài)和成鍵狀態(tài)等關(guān)鍵信息。-X射線的產(chǎn)生與特性:X射線是一種電磁輻射,具有短波長和高穿透力,能夠穿透固體物質(zhì)并與之相互作用。-衍射原理:當(dāng)X射線照射到晶體上時,會因晶體內(nèi)規(guī)則排列的原子或分子而發(fā)生衍射,形成特定的衍射圖譜。這一現(xiàn)象符合布拉格定律,即nλ=2dsinθ,其中n為整數(shù),λ為X射線波長,d為晶面...
4-8
X射線衍射技術(shù)在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛,比如在金屬材料、合金材料、無機晶體等方面都有著重要的應(yīng)用。通過X射線衍射儀XRD可以揭示材料中的微觀晶體結(jié)構(gòu),幫助科學(xué)家們了解材料的性質(zhì)和特點。此外,X射線衍射技術(shù)還可以在質(zhì)控過程中起到關(guān)鍵作用。通過對材料的晶體結(jié)構(gòu)進行分析,可以及時發(fā)現(xiàn)材料中的缺陷和不均勻性,避免材料在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)問題。X射線衍射儀XRD(XRD)是一種通過將X射線射向樣品并測量被樣品散射的X射線來分析材料晶體結(jié)構(gòu)的儀器。其原理可以簡述為:X射線入射到物質(zhì)晶體上...
3-8
高溫環(huán)境XRD是一種用于分析材料結(jié)構(gòu)和性質(zhì)的工具,在高溫條件下進行X射線衍射的技術(shù)。有兩種常見的實驗方法:1.粉末衍射:在高溫環(huán)境下進行粉末衍射實驗時,樣品通常是以粉末的形式存在的。X射線經(jīng)過樣品后會被衍射成不同的角度,這些衍射峰的位置和強度可以提供關(guān)于材料的結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)信息。在高溫環(huán)境下進行XRD實驗時,通常需要使用專門設(shè)計的高溫爐來加熱樣品,并確保溫度穩(wěn)定。通過測量樣品在不同溫度下的XRD圖譜,可以研究材料在高溫下的結(jié)構(gòu)變化和相變過程。2.單晶衍射:在高溫環(huán)境下進行單晶衍...
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